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内容摘要：
SEMILAB薄膜厚度和电阻率测量装置WMT传真机SEMILAB薄膜厚度和电阻率测量装置WMT光致发光PLl-101/A， PLI-103/A，寿命测量装置WML，WLL，薄膜厚度和电阻率测量装置WMT，WLT，晶体形状测量装置TTR-300，发射极片电阻测量装置CMS，CLS，激光椭圆仪SE-100IL，传真机，LE-100IL产品介绍用于晶体和电池检测的光致发光设备可靠的在线光致发光设备，用于在从切割晶体到成品电池的所有加工阶段对晶体和电池质量进行无损测量。可以完全控制整个制造阶段的材料质量。高质量的晶体可生产出的电池，从而降低制造成本。对厚度、TTV 和电阻率进行高速、非接触式评估。厚度和电阻率是光伏应用中硅片的关键质量控制参数。WLT 型号（WLT-1、WLT-3、WLT-5）在线薄膜厚度和电阻率测量系统提供 1-5 点厚度和 1 点电阻率，紧凑型气象传真机JAX-9B，用于全自动......
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