内容摘要:
聚合物膜厚仪的使用方法聚合物膜厚仪是一种用于测量聚合物膜层厚度的精密仪器。以下是聚合物膜厚仪的基本使用方法:1.开机准备:将测头置于开放空间,避免任何可能干扰测量的物体。然后,按下“ON/C”键开机。在正常情况下,开机后仪器会显示上次关机前的测量值。2.进行测量:在测量时,需要迅速将测头与待测聚合物膜的表面垂直接触并轻轻压住。注意,在测量过程中,手要拿稳仪器,光学干涉厚度检测仪,确保测头与膜面接触稳定,避免产生误差。当测厚仪发出鸣叫时,表示测量已完成,此时可以轻轻提起测头。3.重复测量与数据分析:为了获得的测量结果,建议在同一位置重复测量三次以上。仪器在“DISSTATS”状态下,可以依次显示五个统计值,包括平均值(MEAN)、测量值(MAX)、测量值(MIN)、测量次数(NO)以及标准偏差(S.DEV)。这些统计数据有助于用户了解测量结果的分布情况,从而做出的判断。4.......
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