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内容摘要：
膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪Simply The Best>微光斑X 射线聚焦光学器件通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现测量。>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现测量。>高分辨率样品观测系统的点位测量功能有助于提高测量精度。 膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。单涂镀层应用：如Cr/Fe， Ni/Fe， Ag/Cu，Zn/Fe等多涂镀层应用：如Au/Ni/Cu，XRF镀层测厚仪公司， Ag/Pb/Zn，XRF镀层测厚仪， Ni/Cu/Fe等合金镀层应用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等合金成分应用：如NiP/Fe，XRF镀层测厚仪报价， 同时分析镍磷含量和镀层厚度应用编辑 语音1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观......
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