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内容摘要：
随着半导体芯片工艺技术节点进入 28 纳米、14 纳米等更等级，工艺流程的延长且越趋复杂，产线成品率也会随之下降。造成这种现象的一个原因就是制程对杂质的敏感度更高，小尺寸污染物的清洗更困难。解决的方法主要是增加清洗步骤。每个晶片在整个制造过程中需要甚至超过 200 道清洗步骤，晶圆清洗变得更加复杂、重要及富有挑战性。 在自主动钢网清洗机的试运转期间，无重要部件的损坏（人为缘由除外）部件包含：电磁阀，电机，表面，半导体氧化设备，过滤芯等普通来说验收的大致流程就如上所述，这里把判别的办法描绘出来，供各位参考。操作区上的表面和数字分明，无伤痕。接纳到的设备，能够满足速度、质量等合同请求（十分规缘由除外）。机器设备能正常运转，运转安稳牢靠，无异常响动，能病持续性运转一星期全主动钢网清洗机能持续病工作，机器设备整体性美观大方，半导体氧化设备供应商，规划合理，机器设备各部件无漏液等现象。 半......
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