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内容摘要：
膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪Simply The Best>微光斑X 射线聚焦光学器件通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现测量。>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现测量。>高分辨率样品观测系统的点位测量功能有助于提高测量精度。 全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，膜厚仪EDX8000T Plus，镀层厚度的控制在产量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。应用编辑 语音1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触......
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