|
内容摘要：
CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:1：利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2：利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3：利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4：利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5：利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;6：利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7：利用......
如想进一步了解更多产品内容，可以直接给厂家发送询价表单咨询:
|
|
联系方式
 电话： 027-88116608 手机：13554353674
 传真： -
 地址： 武汉市江夏经济开发区阳光大道阳光三路001号
 发布IP： （IP所在地：）
|