|
内容摘要：
XRF金属镀层测厚仪产品特点>测试，无需样品制备>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品>可覆盖元素周期表Mg镁到U铀>SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率>可切换准直器和滤光片XRF金属镀层测厚仪应用场景>EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，微区膜厚仪EDX-8000T Plus，PCB镀层分析，金属电镀镀层分析；>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度 膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪Simply The Best>微光斑X 射线聚焦光学器件通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现测量。>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现测量......
如想进一步了解更多产品内容，可以直接给厂家发送询价表单咨询:
|
|
联系方式
 电话： 0512-68635865 手机：18962189136
 传真： 0512-68635865
 地址： 苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室
 发布IP： （IP所在地：）
|