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内容摘要：
膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪Simply The Best>微光斑X 射线聚焦光学器件通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现测量。>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现测量。>高分辨率样品观测系统的点位测量功能有助于提高测量精度。 膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。单涂镀层应用：如Cr/Fe， Ni/Fe， Ag/Cu，Zn/Fe等多涂镀层应用：如Au/Ni/Cu， Ag/Pb/Zn， Ni/Cu/Fe等合金镀层应用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等合金成分应用：如NiP/Fe， 同时分析镍磷含量和镀层厚度全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面，EDX8000TPlusX......
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