|
内容摘要：
膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪Simply The Best>微光斑X 射线聚焦光学器件通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现测量。>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现测量。>高分辨率样品观测系统的点位测量功能有助于提高测量精度。 声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，EDX-8000B型XRF镀层测厚仪，即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，体积与小型半导体收音机相近，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，测定厚度达2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之间。测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来......
如想进一步了解更多产品内容，可以直接给厂家发送询价表单咨询:
|
|
联系方式
 电话： 0512-68635865 手机：18962189136
 传真： 0512-68635865
 地址： 苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室
 发布IP： （IP所在地：）
|