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内容摘要：
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。 实验室监测方法 监测方法 来源 类别原子吸收法GB7475-87水质mcso-四(对磺基苯)卟啉光度法WS/T126-1999作业场所空气氢化物发生-原子吸收法WS/T127-1999作业场所空气原子吸收法GB/T15555.2-95固体废物浸出液石墨炉原子吸......
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