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内容摘要：
种多通道高精密LCR测试系统 本发明涉及LCR测试技术领域，公开了一种多通道高精密LCR测试系统，包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡，若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接，所述扫描卡用于实现通道切换，所述测量卡用于实现LCR测试，所述背部连接板用于实现信号的转接，所述背部连接板连接有主控板，Sensor测试机哪家好，所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制。 目前世界出货量的型号吸收了的工艺科技例如OTS，QPU和TTG相关技术，这种全新的系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。特性1：OTS-近的位置对正系统（光学目标对准） OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其位置的精度。这是非常引人注目的技术，来源于东京精密的度量技术。OTS实现了以自己为参照的光学对准系统。在本发明中，Sensor测试机哪里有，进一步的，所述DD......
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