|
内容摘要：
多测试系统WL15VWI四个同时测定GBT， MOSFET，NLT-330压差检漏仪， SBD， FRD， IPM，NT-600压差检漏仪， IPD， Chip2000 V / 30 A四个同时测量方法例+ 2000 V±20毫安±128 V±5 A±60 V±30 A±64 V±160毫安32个同时测量可能高真空度而言，高温低温开始到业界水平，5 kv高耐压泄漏试验。次世代ー半导体材料的SiC /氮化也对应WL25MV8万台（AC / DC / DC））数据集中管理、控制（多产品Window）稳定生产环境提供过电流保护功能，动态特性试验中的设备破坏
NAKK泄漏计NLG-100压差检漏仪泄漏计NLG-100特点：适合泄漏测试仪的启动前检查（NG确认）！请注明试验压力和泄漏量。小流量：0.2毫升/分钟管道连接直径：RC(PT)1/8温度范围：0～40℃试验压力：1兆帕外形尺寸：高：......
如想进一步了解更多产品内容，可以直接给厂家发送询价表单咨询:
|
|
联系方式
 电话： 0755-28286052 手机：13823610878
 传真： 0755-28286052
 地址： 深圳市龙岗区南湾街道健民路2号启迪科技园B栋102室
 发布IP： （IP所在地：）
|