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内容摘要：
真空袋薄膜体积电阻率的测定将数层 100mm×100mm试样放在直径80mm的下电极上 ，将电极与试样之间的空气排出 ，即完成测试准备工作。测试时按高阻计操作程序进行操作，测定一分钟充电后试样的电阻值 ，然后测定三厚度由于材 料的结晶情况和薄膜的性能有关 ，真空袋，与薄膜的成型性有关。因此 ，在薄膜的加工过程往往需要及时检测产品及半成品的结晶度。在一般情况下 ，结晶聚合物不可能完全结晶 ，结晶的程度均是用材料中结晶部分的质量占聚合物的总质量的百分比来表示的。结晶度的测定方法有密度法 (密 度梯度法 )、 X射 线衍射法、红外光谱法等。其中 ，真空袋批发，由 于密度梯度法投资费用较低 ，目 前被很多薄膜生产厂广泛地使用。
真空袋薄膜采用的湿度发生方法是美准研究院NIsT所推荐的双压力法 ， 控制简便而且稳定;某些设备采用的是双流量法，类似于冷热水的双阀门调节，真空袋厂家，难以稳定控制......
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