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内容摘要：
系统技术优势1.非接触式三维坐标、位移和应变测量XTDIC采用非接触式光学测量方法测量试件表面三维形变，通过计算可得试件表面全场每一个点的位移和应变等参数，测量过程无需安装任何传感器件，避免了使用传统方法时人为因素引入的测量误差。2.无需现场标定针对固定测量视场用户，推出无需现场标定的XTDIC系统。系统使用便携式测量头，DIC，该测量头针对特定测量视场，无需现场标定，保证系统测量精度。3.多种......
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