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内容摘要:
现总结: 1)289 °C 8分钟加上局部压力的测试性能OK,如需测试300°C 和320°C的各四项测试还有待于购买工业用试验室高温烤箱才能往下进行测试2)由于Alien H3芯片特定的原因,温度过高时芯片会进入休眠状况,但如芯片及标签降致一定的温度后恢复正常,这点必须与客人沟通清楚.3)由于目前所做的测试降了高温外还加上了不明的压力,8pcs标签有1pcs标签表面有较小轻微的变形,这可能是由......
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