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内容摘要：
能量色散X射线荧光光谱仪由于放大器和多道分析器均需要一定的时间进行信息的处理和系统的重置与恢复，在此期间无法接受新的脉冲信号，故会产生系统死时间。当计数率高的时候，两个X射线光子在放大器输出脉冲宽度内同时达到探测器的机率很高，ROHS检测仪，这时会出现脉冲堆积，两个脉冲不能被分辨，脉冲发生畸变。故在多道分析器中，通常都会配置死时间校正和抗脉冲堆积电路来克服这两个问题。此外，在能量色散XRF光谱仪中......
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