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内容摘要：
探针是IC测试治具中非常重要的一个部分，那么IC测试治具中的探针主要起到了什么作用呢？ IC测试治具的测试针是用于测试PCBA的一种探针。表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的弹簧。材质主要有W、ReW、CU、A+等几种类型。W，ReW弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。而A+材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，治具加工，并且不粘金屑，免清洗，因此寿......
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