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内容摘要：
影响膜厚测量仪的因素基体金属电性质基体金属的导电性对测量有影响，而基体金属的导电性与材料成分和热处理方法有关。使用与样品金属具有相同性质的标准膜校准仪器。基体金属厚度每个仪器具有贱金属的临界厚度。大于此厚度，测量不受基体金属厚度的影响。曲率试样的曲率对测量有影响。这种效应总是随着曲率半径的减小而增加。因此，测量弯曲试样的表面是不可靠的。 大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置......
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