|
内容摘要：
相位差光学材料量产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，RETS吸收轴测试，展现任一个波长的相位差量测。光学薄膜?相位差膜、椭圆膜、相位差板?偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、别的光学资料■液晶层?穿透、半穿透型液晶层(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、强诱电性......
如想进一步了解更多产品内容，可以直接给厂家发送询价表单咨询:
|
|
联系方式
 电话： 0512-62589919 手机：13049398933
 传真： 0512-62589929
 地址： 苏州工业园区苏州大道西1号世纪金融大厦1幢609
 发布IP： （IP所在地：）
|