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内容摘要：
半导体特性测试仪
（ST-DC2000_X 系列）
可测试 19大类27分类 的大中小功率的半导体分立器件及模块的静态直流参数，（测试范围包括Si（硅）/SiC（碳化硅）/GaN（氮化镓）材料的IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCR......
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