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内容摘要：
相位差光学材料量产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。RETS-100闪电发货OTSUKA相位差/光学材料量测设备，日本大塚电子；FPD相关的检查和评价设备：动态画面反应时间检测仪：MPRT-2000，相位差/光学材料量测设备：RETS-10......
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