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内容摘要：
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)? ?厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，光谱分析仪，24种元素 厚度检出限:0.005umX荧光测厚仪可调整测量位置，非常敏捷。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。 测定部显示尽像的表示：X线照射部可由W......
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