| 内容摘要:
超大规模集成电路动态老炼与测试在半导体集成电路国产化、小型化、高集成、要求的趋势下,半异体行业引入了大量新材料、新工艺和新的器件结构,导致集成电路更高的缺陷密度。广电计量提供超大规模集成电路动态老炼与测试技术服务,协助客户保证及提高产品的可靠性和质量的一致性。
 分析对象
 处理器、存储器、AD/DA、接口芯片等大规模集成电路,DIP、SOP、BGA、PGA、OFP、PLCC、LC......
 
 
 
	
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