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内容摘要:
航天技术的不断发展,泄漏问题已经成为航天产品设计制造中必须考虑的关键因素,越来越多的收到各方关注,相关电子元器件漏率检测已经引起科研人员的高度重视,目前应用检漏技术的主要是为密封继电器、集成电路外壳。.利用氢质谱检漏仪可以方便地对密封继电器作漏率测定。针对不同的产品,采用合适的检漏方法。目前密封继电器的漏率检测主要是GJB360A-96的112实验程序。 检漏设备应在......
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