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内容摘要：
扫描电镜的介绍扫描电镜的介绍 EPMA和SEM都是用聚焦得很细的电子束照射被检测的试样表面，用X 射线能谱仪或波谱仪，测量电子与试样相互作用所产生的特征X 射线的波长与强度， 从而对微小区域所含元素进行定性或定量分析，并可以用二次电子或背散射电子等信息进行形貌观察。 EPMA和SEM是现代固体材料显微分析(微区成份、 形貌和结构分析)的有用仪器，应用十分广泛。电子探针和扫描电镜都是......
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