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内容摘要：
ENJ2005-B半导体分立器件测试系统系列
系统概述：
设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补
偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。
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