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内容摘要：
未受光谱干扰的各待测元素分析谱线及其背景校正和检测区域结果表明:该质量浓度的铵根对测定无影响，部分待测元素灵敏谱线受到钒基较严重的光谱重叠或旁峰干扰;高质量浓度钒的基体效应，连续背景叠加等影响因素导致铝，高纯偏钒酸铵，铁，硅，磷，偏钒酸铵厂家，铅，铬，钙的谱线强度增加，对其产生正干扰，同时高质量浓度钒的基体效应也导致钾，钠的谱线强度降低，对其产生负干扰.为此实验方法采用基体匹配和同步背景校正相结合的校正措施消除了高钒基体影响，同时试验优选了未受光谱干扰的各待测元素分析谱线及其背景校正和检测区域.结果表明，背景等效浓度为-0.000 3%(Na)～0.000 4%(Ca);铝，铁，硅，磷，铅，铬，钙在0.001%～0.60%(质量分数)范围内，钾，钠在0.005%～0.60%(质量分数)范围内，其质量分数与其对应的发射强度呈线性，各元素校准曲线的相关系数均不小于0.999;方法中各元......
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