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内容摘要:
企业视频展播,请点击播放视频作者:苏州振鑫焱光伏科技有限公司
隐裂、热斑、PID效应,是影响晶硅光伏组件性能的三个重要因素。3. 识别“隐裂”的方法EL(Electroluminescence,电致发光)是一种太阳能电池或组件的内部缺陷检测设备,是简单有效的检测隐裂的方法。利用晶体硅的电致发光原理,通过高分辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像,获取并判定组件的缺陷。具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点。下图即是EL的检测结果,清晰的显示了各种缺陷和隐裂。 印刷电路板的制造凡直径小于150um以下的孔在业界被称为微孔(Microvia),利用这种微孔的几何结构技术所作出的电路可以提高组装、空间利用等等的效益,同时对于电子产品的小型化也有其必要性。对于这类结构的电路板产品,业界曾经有过多个不同的名称来称呼这样的电路板。例如:欧美业者曾经因为制作的程序是采用序列式的建构方式,因此将......
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