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企业视频展播，请点击播放视频作者：苏州振鑫焱光伏科技有限公司
隐裂、热斑、PID效应，是影响晶硅光伏组件性能的三个重要因素。1. 什么是“隐裂”隐裂是晶体硅光伏组件的一种较为常见的缺陷，通俗的讲，就是一些肉眼不可见的细微（micro-crack）。晶硅组件由于其自身晶体结构的特性，十分容易发生。在晶体硅组件生产的工艺流程中，许多环节都有可能造成电池片隐裂。隐裂产生的根本原因，可归纳为硅片上产生了机械应力或热应力。现在为了降低成本，晶硅电池片向越来越薄的方向发展，光伏组件板回收，降低了电池片防止机械破坏的能力，更容易产生隐裂。 1、根据合同要求，验收单晶硅电池片的功率及等级，例如125的A级，就只要A1的，功率为2.57~2.7，再此时得问清楚电池片的功率是正公差还是负公差，选用正公差的。2、单晶硅电池片的颜色：单晶为天蓝或蓝，与表面成35°角日常光照情况下观察表面颜色，目视颜色均......
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