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内容摘要：
一.带程序的芯片1.EPROM芯片一般不宜损坏.因这种芯片需要紫外光才能擦除掉程序，故在测试中不会损坏程序.但有资料先容:因制作芯片的材料所致，跟着时间的推移(年头长了)，即便不用也有可能损坏(主要指程序).所以要尽可能赐与备份。2.EEPROM，SPROM等以及带电池的RAM芯片，均极易破坏程序.这类芯片是否在使用<测试仪>进行VI曲线扫描后，是否就破坏了程序，还未有定论.尽管如斯，同仁们在碰到这种情况时，仍是小心为妙.笔者曾经做过多次试验，可能大的原因是:检验工具(如测试仪，电烙铁等)的外壳漏电所致.3.对于电路板上带有电池的芯片不要等闲将其从板上拆下来.二.复位电路1.待修电路板上有大规模集成电路时，应留意复位题目.2.在测试前h装回设备上，反复开，关机器试一试.以及多按几回复位键.三.功能与参数测试1.<测试仪>对器件的检测，仅能反应出截止区，放大区和饱和区.但不能测出工作......
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