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内容摘要：
英飞思XRF镀层测厚仪优势>微光斑X 射线聚焦光学器件通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现测量。>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现测量。>高分辨率样品观测系统的点位测量功能有助于提高测量精度。>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。 XRF金属镀层测厚仪产品特点>测试，无需样品制备>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品>可覆盖元素周期表Mg镁到U铀>SDD检测器，沈阳镀层测厚仪膜厚仪，具有高计数范围和出色的能量分辨率>可切换准直器和滤光片XRF金属镀层测厚仪应用场景>EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，PCB镀层......
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