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内容摘要：
X射线光谱现场分析技术是采用现场X射线光谱仪在采样现场对待测目标体中元素进行地定性和定量分析技术， 又称为现场X射线荧光矿石分析仪。 根据现场分析的应用场景与采样方法，重晶石分析仪， X射线光谱现场分析可分为X射线光谱现场原位分析和X射线光谱现场取样分析。 现场原位分析是指将X射线光谱分析仪的探测窗直接置于岩(矿)石露头或土壤或其他待测物料的表面， 在现场原生条件下获取待测目标体中元素种类和元素含量的分析方法; 现场取样分析是指对待测目标体进行样品采集 分辨率：1.2nm @15kv，2.2nm @1kv（非样品台偏压模式） 放大倍数：10X—1000000X，连续可调 加速电压：20v-30kv，连续可调 样品台移动范围：X=Y=120mm，Z=50mm 能谱探测器：SDD硅漂移电制冷探测器 能量分辨率：MnKa优于127eV 元素分析范围：Be4—Cf98。 [1] 主要功能编......
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