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内容摘要：
英飞思XRF镀层测厚仪优势>微光斑X 射线聚焦光学器件通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现测量。>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现测量。>高分辨率样品观测系统的点位测量功能有助于提高测量精度。>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。 测厚仪材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，EDX-8000B型XRF镀层测厚仪，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的......
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