⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，膜厚仪EDX8000T Plus，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
英飞思XRF镀层测厚仪优势
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。
苏州英飞思科学仪器有限公司，英文名字：Efficiency Scientific Instrument Co.，Ltd.
公司logo和英文缩写为ESI。
英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。
XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。
膜厚仪EDX8000T Plus-英飞思科学(推荐商家)由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司实力不俗，信誉可靠，在江苏 苏州 的分析仪器等行业积累了大批忠诚的客户。英飞思科学带着精益求精的工作态度和不断的完善理念和您携手步入，共创美好未来！
产品：英飞思科学
供货总量：不限
产品价格：议定
包装规格：不限
物流说明：货运及物流
交货说明：按订单