CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:1：利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2：利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3：利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4：利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5：利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;6：利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7：利用
