膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪
Simply The Best
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
英飞思XRF镀层测厚仪优势
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面，朝阳XRF镀层测厚仪，可以轻松地进行日常测量。
声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，XRF镀层测厚仪厂商，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，体积与小型半导体收音机相近，XRF镀层测厚仪厂家，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，测定厚度达2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之间。
苏州英飞思(图)-XRF镀层测厚仪报价-朝阳XRF镀层测厚仪由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司是从事“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”的企业，公司秉承“诚信经营，用心服务”的理念，为您提供更好的产品和服务。欢迎来电咨询！联系人：张经理。
产品：英飞思科学
供货总量：不限
产品价格：议定
包装规格：不限
物流说明：货运及物流
交货说明：按订单
