X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面仪器之一。中文名X射线荧光分析仪检出下限Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm样品形状大460×380mm(高150mm)适用对象塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体，在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。
XRF光谱仪选购要点：
1.探测器的类别，不同型号的探测器比如正比计数盒，Si-pin， SDD和FSDD的表现差异非常大，价格也相差明现。
2.光管的选型（功率，靶材，ESI-30S光谱仪全自动粉末压片机，端窗或者侧窗，玻璃还是铍窗窗口，稳定性）
主要使用X射线束激发荧光辐射，次是在1928年由尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪，可以分析从轻元素的钠（z=11）到铀，而波长分散式则为从轻元素的硼到铀。
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