DO-160霉菌试验
1 试验目的
这些试验测定在适合真菌生长的条件下，即潮湿、温暖以及存在无机盐的条件，设备材料是否受真菌不利影响。
2 常见影响
由真菌在设备上生长造成的典型问题是：
a. 微生物消化有机材料是正常的新陈代谢过程，以此损坏基底，降低表面张力并且增加水分渗透。
b. 新陈代谢过程中产生的酶类和有机酸扩散出细胞，并扩散到基底上，然后造成金属腐蚀、玻璃蚀刻、油脂硬化以及基底的其他物理和化学变化。
c. 存在于部件之间的微生物会形成导电介质，可能导致电气故障。
d. 真菌的实际存在也造成了健康问题，并且造成环境不美观，DO-160低气压试验，而用户拒绝使用这种设备。
真菌生长的有害影响归纳如下：
a. 对材料的直接攻击。无抗性材料易受直接攻击的影响，因为真菌会破坏这些材料并将其作为营养物使用。这将导致材料的物理性质退化。无抗性材料包括：
(1) 天然材料。自然来源的产品（碳基）易受此类攻击的影响。
(a) 纤维素材料（如木材、纸、天然纤维纺织品以及纤维绳）。
(b) 动物性和植物性粘合剂。
(c) 油脂、油和许多烃。
(d) 皮革。
(2) 合成材料。
(a) PVC 材料（如以脂肪酸脂塑化的材料）。
(b) 一些聚氨脂（如聚脂和一些聚醚）。
(c) 包含有机填料铝塑复合材料的塑料。
(d) 包含敏感成分的涂料和清漆。
b. 对材料的间接攻击。间接攻击在以下情况中对抗菌材料造成损害：
(1) 在表面堆积物，如粉尘、油脂、汗水及其他污染物（在制造时进入材料或在服务期间积聚）上生长的真菌对基础材料造成损害，即使该材料可以抵抗直接攻击。
(2) 真菌排出的新陈代谢废物（即有机酸）将腐蚀金属、蚀刻玻璃或污染或损坏塑料和其他材料。
(3) 邻近材料上真菌的酸性废物容易受对耐腐蚀材料的直接攻击的影响。
3 设备类型
F 类设备
安装在真菌污染严重的环境中的设备标识为F 类，DO-160低温试验，并且应接受真菌抵抗试验。如果其成分或之前的试验显示设备建造中使用的所有材料都不是真菌生长的营养物，则不要求进行本试验。如果在本验证中使用了非营养材料证明，应在《环境验证表格》中声明这一事实。
4 仪器
进行本试验所必需的仪器包括配置有能维持特定温度和湿度条件的辅助仪器的腔室或橱柜。应制订条款以防止待测部件上液滴冷凝。在待测部件周围，DO-160高度试验，空气应可以自由流通，并且应尽量减少支撑待测部件的夹具的接触区域。如果强制通风，长沙DO-160，其在试验样品表面的流量不应超过1 米/秒.
5 试验程序：请见详情。
DO-160结冰试验/凝露试验/冷凝试验
1 测试目的
如果温度、海拔和湿度发生变化时可能会出现结冰的情况，这些测试确定了必须运行的设备暴露在结冰情况下时的性能特点。
2 设备类型
下列类型覆盖了在飞机上通常所发生的结冰条件。
A 类：
该测试适用于外部安装或在飞机非温度控制区域上的设备，在这些地方，当设备冷浸到极端低下的温度，并且随后在结冰温度下遇到湿气时会出现冷凝现象，从而导致这些地方发生结冰或霜冻的情况。
B 类：
该测试适用于有移动部件的设备。在这些移动部件中，结冰可能会阻碍或妨碍发生移动，或者，冰块的膨胀导致的力量可能会破坏结构或功能部件。在设备中或设备上形成的冰块来源于冷凝，结冰，融化和/或再结冰，并且可能在非密封外壳内部逐渐聚集水或冰块。
C 类：
该测试适用于安装在外部区域或在非温度控制区域上的物件，这些地方有聚集游离水，从而随后在设备冷表面结冰的危险。该测试用来检验设备性能上的冰块厚度影响，或者在去冰行动必要前确定允许的冰块.大厚度。适用设备性能标准应确定要求的冰块厚度和分布，同时确定冰块逐渐聚集的要求。
3 测试程序
3.1 测试目的
在测试下安装设备，安装方法为飞机普通安装方法。在开始进行合适的测试前，去除所有可能会影响设备冰块和表面之间附着的非代表性污染物，如油，脂以及污物。产生热量的设备运行时间应制在确定合格性所必需的时间上。 A 类和B 类程序所叙述的步骤在图
3.2 概论
A 类
a. 在设备没有运行的情况下，以表4-1 所规定的低地面存活温度，周围室压和湿度来稳定设备温度。
b. 应尽快将设备暴露在摄氏度为30 度，相对湿度至少为95%的环境下。对设备的表面温度进行监测。
c. 将环境保持在30 摄氏度以及相对湿度至少为95%的条件下，直到设备的表面温度达到5 摄氏度。同时应尽快在周围压力和湿度的条件下改变环境温度，达到合适的地面存活低温上。
d. 对于另外两个循环而言（总共三个循环），重复a.到c.的步骤。
e. 第三个循环结束时，以地面存活低温来稳定设备。提高舱室温度，并将该温度保持在-10 摄氏度上，并且允许设备表面温度升高。当表面温度达到-10~5 摄氏度时，将设备放置在运行状态下，并且确定是否与适用设备性能标准相符合。
B 类
a. 在设备没有运行的情况下，以-20 摄氏度和周围室压来稳定设备温度。保持该温度并将舱室压力减少到表 4-1 所规定的.大运行级别上。将该条件保持至少10 分钟。
b. 提高舱室温度，温度的提高速率不超过每分钟3 摄氏度，与此同时，在测试舱室中增加并保持相对湿度，其值不95%。将该状态保持足够的时间，从而融化所有霜冻和冰块，或者直到设备的表面温度达到0摄氏度到5 摄氏度之间时为止。在该步骤中，舱室的温度在任何时候都不应超过30 摄氏度。
c. 以均匀的速率，在15 到30 分钟内将舱室压力增加到室内环境值上。在完成增压后，将舱室内的相对湿度值减小到正常的室内环境值上。
d. 按照总数为25 个循环或适用设备规定所确定的循环数（两者中的较小值）来重复执行步骤a到步骤c。
e. 在一次测试循环结束之时，在设备温度已经稳定在-20 摄氏度时，确定是否与适用设备性能标准相符合。
产品：广电实验室
供货总量：不限
产品价格：议定
包装规格：不限
物流说明：货运及物流
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