? 支持两种测厚模式：发射-回波模式（P-E）和回波-回波（E-E）模式，镀层测厚仪，允许使用者在发射-回波模式（一般用于检测缺陷和凹坑）和回波-回波模式（测厚时不计入涂覆层厚度）之间进行切换；? 采用计时芯片，实现厚度测量；? 支持多种探头，测量范围 600mm；? 自动 V-PATH 修正，补偿双晶探头测厚的非线性；? 采用 CPU 芯片，每秒进行 10 次厚度测量；? 采用彩色大屏幕 320
