CCD的性能参数：非线性度表征CCD芯片对于同一波长的输入信号，其输出信号强度与输入信号强度比例变化的不一致性。时间常数表征探测仪响应速度，也表示探测仪响应的调制辐射能力。时间常数与光导和光伏探测仪中的自由载流子寿命有关。CCD芯片像素缺陷像素缺陷：对于在50%线性范围的照明，若像素响应与其相邻像素偏差超过30%，则为像素缺陷。b.簇缺陷：在3*3像素的范围内，缺陷数超过5个像素。列缺陷：在1*1
