高产能 8" 检查及缺陷分析系统 - Leica DM8000 M 徕卡检查及缺陷分析系统DM8000M外观 徕卡 DM8000 M 提供了全新的光学设计，如理想的 宏观检查模式 或者倾斜紫外光 OUV, 随检UV 选择 不但提高了分辨能力，同时也增加了观察 8’’/200 毫米直径大样品 时的产量。 该机照明 基于的 LED 科技 ，一体化整合在显微镜机身上。 低热辐射效应和一体化内置
