C测试仪3506-10对应1MHz测试， 低容量，，高速测试● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量● 提高了抗干扰性，日本日置hioki仪器，在产线的上也能实现高反复精度● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量● 根据BIN的测定区分容量测量参数 C(电容)，hioki日置万用表，D(损耗系数tanδ)， Q (1/tan δ)测
