半导体的设计保障半导体的设计保障1) 常规可靠性设计技术。包括冗余设计、降额设计、灵敏度分析、中心值优化设计等。2) 针对主要失效模式的器件设计技术。包括针对热载流子效应、闩锁效应等主要失效模式，合理设计器件结构、几何尺寸参数和物理参数。3) 针对主要失效模式的工艺设计保障。包括采用新的工艺技术，调整工艺
