光电测厚法是利用误差≤±0.2um的测试仪器进行检测。薄膜放在磨光的平台上 ,在直径≥2mm的 测量头下 ,使 用 0.1~0.5N的 接触压力 ,目测薄膜的厚度。然后进行厚度计算 ,低压塑料袋,计算公式如下 :平均厚度偏差