相位差光学材料量产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。购买须知1、厂家货源正i品日本原装。2、关于尺码按照出厂产品资料有说明。3、关于颜色按照出厂产品资料有说明。4、关于客服客户全天24小时在线，如需紧急处理，rets，请致电公司 。5、关于
