一六仪器 ?国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 ?一六仪器研发生产的X荧光光谱仪，稳定的多道脉冲分析采集系统，专利聚焦和变距设计，薄膜测厚仪，多元EFP算法，简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例性能优势：? ?下照式设计：可以方便地定位对焦样品。? ?无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，镀层测厚仪，凹槽深度范围0-90mm。? ?微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测
