江苏一六仪器??超微电子元器件芯片镀层测厚仪技术参数：元素分析范围：氯（CI）-铀（U）厚度分析范围：各种元素及有机物一次性同时分析：23层镀层，膜厚仪，24种元素厚度di检出限：0.005umxiao测量面积:0.002m㎡膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。涂层测厚仪正
