江苏一六仪器有限公司研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪，稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。超微电子元器件芯片镀层测厚仪元素分析范围：氯（CI）-铀（U）厚度分析范围：各种元素及有机物一次性同时分析：23层镀层，24种元素厚度di检出限：0.005um为什么膜厚仪有时测量不准确?人为因素。这
