?光学轮廓仪可以测量光纤端面缺陷和粗糙度；在集成电路行业，SuperView W1系列光学轮廓仪可以测量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度；轮廓仪适用行业，在轴承行业，可测量内外套圈的密封槽形状(角度、倒角R、槽深、槽宽等)；各
