一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) ? 厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，光谱测厚仪，24种元素 厚度检出限:0.005um（一）、内部结构? ?X荧光光谱测厚仪机型很多，但是其内部结构如果先天不足，后期的外部结构无论自动化多高，也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点：1、X荧光发射和CCD观测是否同步和垂直？2、
